텍트로닉스, ‘2015 R&D100 어워드’ 최종 후보로 2회 선정
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텍트로닉스, ‘2015 R&D100 어워드’ 최종 후보로 2회 선정
  • 신동훈 기자
  • 승인 2015.09.07 17:08
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텍트로닉스가 DPO70000SX 70GHz ATI 고성능 오실로스코프가 2015 R&D100 어워드에서 키슬리 DMM7510 그래픽 샘플링 멀티미터와 함께 분석/테스트 부문에서 최종 수상후보로 선정됐다고 발표했다.

매년 열리는 R&D 어워드는 20개 부문에 걸쳐 전년도에 출시된 기술 제품 중 최고의 제품 100개를 선정한다. 과거 수상작으로는 화학, 소비 제품, 분석/테스트 장비 및 생체 의학 부문에서 혁신적인 제품들이 선정 된 바 있다. 최종 후보 선정은 독립 심사위원단과R&D 매거진 편집위원들에 의해 진행된다.

▲ 텍트로닉스 DPO70000SX 70GHz ATI 고성능 오실로스코프

텍트로닉스 월드와이드(WW) 마케팅 부사장 크리스 고리아란(Kris Gorriaran)은 “R&D 100 어워드의 최종 후보로 선정된 것을 영광스럽게 생각한다. 이는 업계의 권위 있는 기관으로부터 탁월한 품질을 인정 받은 것이며 텍트로닉스가 기술혁신을 위한 헌신과 고객의 요구에 부합하기 위해 새롭고 창의적인 방안을 모색하기 위해 지속적인 노력을 경주하고 있음을 대변한다”고 말했다.

DPO70000SX 오실로스코프의 혁신적인 성능의 가장 큰 비결은 ATI(비동기 시간 인터리빙)이다. 초고대역폭 신호를 디지타이징하기 위한 현재의 접근 방법은 신호 에너지를 두 개의 디지타이징 경로로 분산한 다음 DSP를 사용하여 입력 신호를 재구성하는 것이다. 이러한 방식과 달리 텍트로닉스의 고유한 ATI 아키텍처는 모든 신호 에너지를 두 디지타이징 경로로 전달하는 대칭 기술을 사용하며 이는 노이즈 측면에서 이점으로 이어진다.

키슬리 DMM7510 7½-Digit 그래픽 샘플링 멀티미터는 정밀 디지털 멀티미터, 그래픽 터치스크린 사용자 인터페이스/디스플레이, 빠른 고해상도 디지타이저의 장점을 모두 결합한 제품이다.

측정 정확도를 높이고 테스트 시스템 설정 및 제어를 간소화하도록 고안된 다양한 기능을 갖추고 있어 디바이스 특성화, 디버깅 및 분석, 생산 테스트/ATE 및 연구실과 대학의 애플리케이션을 포함한 다양한 테스트 애플리케이션에 활용이 가능하다.

최종 수상 발표는 오는 11월13일 미국 네바다 주 라스베이거스의 시저스 팰리스 호텔에서 열리는 2015 R&D100 어워드 만찬에서 진행될 예정이다. 



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