DDR4 개발자들은 라이트하우스 파트너 프로그램에 가입하면 디자인 검증 소프트웨어를 이용할 수 있다. DDR4 라이트하우스 파트너 프로그램은 텔레다인르크로이 고객뿐 아니라 텔레다인 르크로이 장비를 구매하지 않은 개발자들도 사용 가능하다.
높은 전송 속도와 낮은 소비 전력을 특징으로 하는 DDR4는 DDR3 테스트와는 다른 새로운 테스트 방법론과 조건들을 요구한다. 2012년 겨울 발표된 DDR4 규격(JESD79-4) 중 일부 측정 방법은 아직 정해지지 않은 상태이나 텔레다인르크로이는 JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council)과의 협력을 통해 예상되는 측정 방법론을 자사의 DDR4 컴플라이언스 테스트에 적용하여 개발해냈다.
DDR4와 관련해 복잡한 신호 품질 문제가 대두됨에 따라 JEDEC은 DDR4 전송 속도에서 적절한 신호 무결성을 얻을 수 있도록 JESD79-4 에 여러 가지 새로운 물리 계층 조건들을 도입했다.
JESD79-4는 최초의 DDR 규격으로 비트 에러율, 지터 분해, 전통적인 클럭 지터 측정 방법 등 기존의 시리얼 데이터 지터 측정법을 사용한다. 또한 직접적인 측정 설정과 홀드 타임 기술 대신에 데이터 입력 검증 윈도(Data Input Valid Window) 아이 마스크를 활용해 랜덤 지터와 결정적 지터, 노이즈를 모두 측정해 낸다. 텔레다인르크로이는 자사의 시리얼 데이터 분석 알고리즘을 기반으로 DDR4 컴플라이언스 테스트 소프트웨어에 이 같은 새로운 테스트를 추가했다. DDR4 개발자들은 텔레다인르크로이의 DDR4 라이트하우스 파트너 프로그램에 가입하면 이들 새로운 테스트를 포함하는 소프트웨어를 이용할 수 있다.
DDR4 신호의 속도는 자체적으로 프로빙 문제를 갖고 있다. 최상의 신호 품질을 확보하고 반사(reflection)을 최소화하기 위해서는 직접 BGA에서 프로빙을 하는 방법이 이상적이나 실재 적용하기는 쉽지 않다. 텔레다인르크로이는 DDR 프로빙에 도움이 되는 다양한 소프트웨어 툴을 제공함으로써 신호 무결성을 극대화해 준다. 특히 가상 프로브 (Virtual Probe) 패키지는 물리적으로 프로빙할 수 없는 DRAM BGA에 가상으로 이동할 수 있게 해준다.
또한 디-임베딩(de-embedding) 기능을 통해 프로브나 인터포즈의 효과를 제거할 수도 있다. 이 밖에도 연산 기능으로 제공되는 VP@Rcvr(Virtual Probe at Receiver)를 통해 DIMM의 회로를 모델링하면 테스트 신호의 반사를 줄일 수 있다.
텔레다인르크로이의 DDR4 컴플라이언스 테스트 패키지는 수많은 사이클을 단기간에 자동으로 측정하고 경쟁 솔루션이 100여개의 측정을 수행하는 동안 수천 개의 측정을 수행할 수 있는 뛰어난 성능을 자랑한다. 이러한 성능은 특히 통계적으로 중요한 결과를 도출해낼 때 효과적이며 여러 번의 포착 작업 없이도 최대값과 최소값을 얻을 수 있다.
텔레다인르크로이의 DDR4 컴플라이언스 테스트는 DDR4 개발에서 핵심이라고 할 수 있는 시스템 디버그를 쉽게 할 수 있는 툴이다. 특히 'Stop on Test' 기능을 활용하면 개별 측정시 테스트를 멈추고 다양한 디버깅 툴을 활용해 분석 작업을 할 수 있다. 테스팅이 완료됐을 때 간단히 버튼 한번을 누르면 다시 측정을 재개한다.
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