한국내쇼날인스트루먼트가 오는 2월4일부터 6일까지 서울 코엑스(COEX)에서 개최되는 ‘세미콘코리아(SEMICON KOREA) 2015’에 참가해 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발·검증·테스트·양산 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.

반도체 테스트 비용을 절감할 수 있는 솔루션중 하나인 반도체 테스트 시스템(STS, Semiconductor Test System)은 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있고 기존 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다는 장점이 있다.

또한 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기에 최근 이슈가 많은 RF 전력 증폭기(RF PA),가속도계, 전력 관리 IC(PMIC) 등과 같은 RF·아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이다. 더불어 700V 이상의 고전압이 요구되는 모터 드라이버(Motor Driver) IC를 디자인할 때 효율적인 고전력 PXI 테스터도 함께 전시될 예정이다.

이동희 한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 대리는 “포처 테스트 챌린지(Future Test Challenges)를 논의하는 테스트 포럼(Test Forum)에 참석하면 NI STS와 PXI의 효율성을 분석할 수 있다”고 전했다.

한편 한국NI의 부스(코엑스 3층 D홀 5536)에서는 전문 애플리케이션 엔지니어의 데모 시연, 이벤트 및 제품 상담이 함께 진행될 예정이다.