한국내쇼날인스트루먼트(한국NI)가 1월27일부터 29일까지 서울 코엑스에서 개최되는 ‘세미콘코리아 2016(SEMICON KOREA 2016)’에서 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발·검증·테스트·양산 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.
한국NI는 R&D 레벨에서의 반도체 테스트(Characterization Test)에서 부터 양산용 반도체 테스트(Production Test)에 이르기까지 반도체 테스트 전반에 걸친 솔루션을 이번 세미콘 코리아 2016에서 선보일 예정이다.
반도체 테스트 비용을 절감할 수 있는 솔루션 중 하나인 NI STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있으며 기존의 대형 ATE 보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있는 점이 특징이다.
또 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기에 최근 이슈가 많은 RF 파워 앰프(RF Power Amplifier), 전력반도체(PMIC, DC-DC 컨버터)등과 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이다.
이와 함께 최근 IoT 디바이스들의 수요 증가와 함께, 각 디바이스 내의 다양한 무선 통신 규격(와이파이, 블루투스, 지그비, Z-웨이브 등)을 동시에 테스트 할 수 있는 NI WTS(Wireless Test System)도 선보일 예정이다.
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