실리콘랩스 ‘PCIe 클록 지터 측정 툴, 타이밍 설계 간소화 가능
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실리콘랩스 ‘PCIe 클록 지터 측정 툴, 타이밍 설계 간소화 가능
  • 이호형 기자
  • 승인 2015.12.07 13:03
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실리콘랩스가 엔지니어가 간단하게 몇 번의 클릭만으로도 오실로스코프 데이터 파일에서 PCIe(Express) 클록 지터를 빠르고 쉽게 측정할 수 있는 무료 소프트웨어 툴을 발표했다.

엔지니어는 이 툴을 통해 PCIe 스펙을 준수하는지 쉽게 검증할 수 있으며 시스템 개발 시간을 단축할 수 있다.

실리콘랩스의 클록 지터 툴은 PCIe 1.0, 2.0, 3.0, 4.0 스펙을 위한 최초의 표준화된 지터 계산기로 PCIe 아키텍처 기반의 애플리케이션을 개발하는 모든 엔지니어가 무료로 이용할 수 있다. PCIe 커먼 클록 및 개별적인 클록 아키텍처를 지원하기 위해 설계된 이 툴은 누구라도 이용할 수 있으며 실리콘랩스의 클록 제품을 사용하는 경우로 국한시키지 않는다.

▲ 실리콘랩스의 클록 지터 툴은 PCIe 1.0, 2.0, 3.0, 4.0 스펙을 위한 최초의 표준화된 지터 계산기로 PCIe 아키텍처 기반의 애플리케이션을 개발하는 모든 엔지니어가 무료로 이용할 수 있다.

10년보다도 더 이전에 데스크톱 PC용 시리얼 인터커넥트로 처음 사용됐던 PCIe 표준은 현재3세대 기술로 발전하여 블레이드 서버, 스토리지, 임베디드 컴퓨팅, IP 게이트웨이, 산업용 시스템 및 가전제품 등에서 폭넓게 채택되고 있다.

PCIe 기술은 FPGA 및 SoC 기기에 채택돼 시스템 내에서 데이터 전송을 위한 다목적 고성능의 방법을 제공한다. PCIe 스펙은 ±300ppm 주파수 안정성으로 100㎒ 레퍼런스 클록을 규정하지만 FPGA와 SoC 일부 설계에서는 내부에서 최대 250㎒까지 동작할 수 있어 클록 지터 평가가 중요한 설계 고려사항이 되고 있다.

PCIe 기술을 위한 필터 마스크 및 지터 계산은 개발 과정에서 오해되고 있는 부분이 종종 있다. 대부분의 오실로스코프는 정확한 PCIe 클록 지터를 측정할 수 있는 필수적인 필터 마스크를 탑재하지 않기 때문에 측정된 결과가 데이터 시트 사양과 일치하지 않는 이유에 대한 혼동이 발생할 수 있다.

개발자들은 클록 데이터 시트 사양 보다 더 높은 PCIe 지터 측정치를 보고하는 경우가 있는데 이는 설계 문제라기 보다는 잘못된 측정의 결과로 판명된다. 실리콘랩스는 PCIe 클록 제품의 선도 공급업체로서 이러한 문제를 해결할 수 있는 PCIe 지터 툴을 설계했으며 하드웨에 개발자들에게 측정된 클록이 PCIe 지터 요건을 준수했는지 여부를 신속하게 판단하는 다운로드하여 사용할 수 있는 유틸리티를 제공한다.

실리콘랩스의 PCIe 기술을 위한 클록 지터 툴은, 오실로스코프 데이터 파일에서 클록 지터를 계산하기 위해 필요한 몇개의 간단한 단계를 개발자에게 안내하는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스를 제공한다.

이 툴은 PCIe 1.0, 2.0, 3.0, 4.0 커먼 클록과 개별 레퍼런스 클록 아키텍처를 위한 PCI-SIG에서 정의하는 모든 필터 마스크를 포함하며 독립적인 SRIS(spread spectrum)와 SRNS(non-spread spectrum) 두 가지 방식 모두 지원한다. 



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