텍트로닉스가 급증하는 PAM4 변조 측정 수요에 대응해 광학 및 전기 인터페이스를 모두 지원하는 포괄적인 분석 툴을 발표했다.
새로운 툴은 ‘DPO70000SX’ 70㎓ 실시간 오실로스코프 및 ‘DSA8300’ 등가 시간 오실로스코프 모두에서 작동하므로 특정 애플리케이션에 필요한 계측기 구성에 관계없이 가장 높은 정확도로 최상의 결과를 제공한다.
PAM4는 400G(일반적으로 8×50G) 전기 및 광학 인터페이스에 대한 IEEE P802.3bs 실무 그룹의 최신 400기가비트 이더넷 표준에 채택되고 있다. 2레벨 신호 처리를 사용하는 기존 NRZ에 비해 PAM4에 사용되는 4레벨 체계는 신호 복잡성을 크게 증가시키며 성능 및 노이즈 감도와 관련해 새로운 차원의 테스트 장비에 대한 수요를 불러일으킨다.
광학 및 전기 영역을 모두 지원하는 공용 툴 셋트를 사용해하13GBaud ~ 56GBaud 범위의 PAM4 신호를 안정적으로 특성화할 수 있는 기능은 업계에서 이 새로운 변조 방법론을 추진하는 데 핵심적인 요소다.
텍트로닉스 DPO70000SX 및 DSA8300 오실로스코프 모두에서 높은 저노이즈 성능을 제공하므로 엔지니어와 연구원들이 멀티 레벨 직접 변조 분석에 직접 적용되는 강력하고 정확한 신호 획득 테스트 시스템을 선택할 수 있다.
PAM4에서 사용되는 멀티 레벨 신호를 분석하려면 복수의 비트 상태를 정확하게 획득하고 분석할 수 있는 낮은 노이즈와 뛰어난 신호 대 잡음비를 제공하는 오실로스코프가 필요하다.
텍트로닉스 DPO70000SX 오실로스코프는 기존 주파수 인터리빙 방식 오실로스코프에 비해 최대 30% 낮은 노이즈의 탁월한 저노이즈 획득 기능을 제공하는 ATI(비동기 시간 인터리빙) 기술을 사용한다.
광학 PAM4 측정 분석 또한 저노이즈 획득에 따른 장점을 활용할 수 있다. 텍트로닉스는 DSA8300 시리즈 샘플링 오실로스코프에서 사용할 수 있는 광학 획득 기술을 통해 최대 클럭 복구가 진행되는 경우에도 낮은 노이즈와 높은 감도를 제공한다.
텍트로닉스 80C15/CRTP 광학 모듈의 이와 같은 새로운 차원의 노이즈 성능은 TDEC 및 SR4 적합성 측정 기능의 조합과 함께 광학 PAM4 분석에 최적이다.
브라이언 라이히 텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자는 “현재와 미래의 IEEE 표준에서 PAM4가 급속하게 부각됨에 따라 텍트로닉스는 검증된 측정 분석 툴에 대한 고객의 요구에 대응하고 있다”며 “두 세계 정상급 획득 시스템에서 제공하는 전기 및 광학 분석을 모두 지원하는 텍트로닉스의 포괄적인 PAM4 솔루션은 업계에서 가장 낮은 노이즈와 가장 높은 대역폭을 제공하는 동시에 100G 또는 400G 설계 엔지니어에게 PAM4 개발에 필요한 검증 및 설계 툴을 제공한다”고 말했다.
PAM4 분석 툴셋의 기능에는 전체 파형 또는 상관 파형의 분석 기능, 멀티 레벨 임계값의 통과·실패 분석에 대한 레퍼런스 레벨 설정, 각 LSB 및 MSB 레벨에 대한 수치 상승·하강 시간, 텍트로닉스가 제공하는 PAM 전용 PLL 모델을 사용한 내장 클럭 복구 기능이 포함된다.
한편 텍트로닉스 DSA8300 및 DPO70000SX 오실로스코프 모델용 PAM4 분석 솔루션은 2015년 제4분기에 공급될 예정이다.
