안리쓰, 다채널 광모듈 평가용 ‘버트웨이브 MP2100B’ 출시
상태바
안리쓰, 다채널 광모듈 평가용 ‘버트웨이브 MP2100B’ 출시
  • 이호형 기자
  • 승인 2015.09.25 09:59
  • 댓글 0
이 기사를 공유합니다

안리쓰가 다채널 광모듈(TOSA/ROSA 또는 VCSEL 광학 장비를 통합 SFP 및 QSFP 트랜시버로 통합하는 모듈)에 대한 보다 효율적인 평가를 지원하기 위해 널리 사용되는 자사 MP2100A의 후속 제품으로 새로운 ‘버트웨이브(BERTWave) MP2100B’를 출시한다고 발표했다.

이번에 새로 개발된 버트웨이브 MP2100B는 동시적 BER 계측(수신된 디지털 데이터의 비트 문자열에서 오류 비트의 비율을 나타내는 비트 오류율(Bit Error Rate) 측정의 약어) 및 아이 패턴 분석(주기적 신호 파형을 평가하여 수행되는 아이 패턴 파형 분석으로 표시된 신호 파형이 눈 모양이기 때문에 아이 패턴이라고 부른다)을 지원하며 광 통신 시스템에서 사용되는 광모듈과 광학 장비(광학 신호를 전기적 신호로 변환하거나 그 반대로 변환하는 장비)를 평가하는 데 필요한 모든 항목을 단일 MP2100B 세트로 계측할 수 있다.

▲ 버트웨이브 MP2100B는 동시적 BER 계측 및 아이 패턴 분석을 지원하며 광 통신 시스템에서 사용되는 광모듈과 광학 장비를 평가하는 데 필요한 모든 항목을 단일 MP2100B 세트로 계측할 수 있다.

BER 계측 및 아이 패턴 분석에 두 가지 계측 장비가 필요한 기존 시스템과 달리 한 대의 MP2100B 세트로 필요한 모든 평가 항목을 지원할 수 있으므로 최대 40%까지 장비 비용이 절감된다. 또한 이번의 새로운 릴리스에 광학 스위치와 광 감쇠기를 옵션 액세서리로 추가하면 다채널 광모듈 및 광학 장비를 평가하는 데 필요한 모든 기능을 갖춘 완전한 계측 솔루션이 된다.

광모듈 및 광학 장비 제조 시장에서 필요로 하는 더욱 빠른 계측 속도를 지원하기 위해 최대 150ksample/s의 속도를 제공하는 새로운 고속 샘플링 모드가 레거시 모델보다 최대 1.5배 빠르게 아이 마스크 테스트 등과 같은 아이 패턴 분석을 수행한다.

아울러 MP2100B 내장 BERT(비트 오류율 테스터)는 QSFP+ 등과 같은 다채널 광모듈의 동시적 BER 계측을 위해 4채널로 업그레이드하면 레거시 모델과 비교하여 계측 시간을 최대 80%까지 단축할 수 있다.

안리쓰는 제조업체에서 장비 비용을 절감하고 계측 시간을 단축하여 광모듈 및 광학 장비의 제조 비용을 대폭 절감하는 데 새롭게 출시된 MP2100B가 도움이 되기를 기대하고 있다.

클라우드 컴퓨팅 서비스의 광범위한 사용으로 데이터 센터의 트래픽이 폭발적으로 증가하고 있으며 이에 따라 데이터 센터 서버 및 네트워크 장비의 전송 능력을 향상시킬 필요성이 빠르게 대두되고 있다.

그 결과 데이터 센터 서버와 네트워크 장비에서 사용되는 광모듈 특히 10GbE SFP+ 및 40GbE QSFP+(10Gbit/s × 4) 모듈에 대한 수요가 높아지고 있다.

이에 안리쓰는 QSFP+ 등의 다채널 광모듈에 대한 보다 효율적인 평가를 지원하는 4채널 BERT 계측으로 확장 가능한 버트웨이브 MP2100B를 출시했다고 설명했다.

안리쓰 버트웨이브 MP2100B는 광모듈 개발 및 제조에 필요한 BERT와 샘플링 오실로스코프가 통합된 올인원 테스트 세트다. 내장된 12.5기가비트/s PPG(펄스 패턴 생성기)와 ED(오류 검출기)가 최대 4채널까지 지원하며 통합 샘플링 오실로스코프는 각각 25GHz 및 9GHz의 전기적 대역폭과 광 대역폭을 지원한다.

한 대의 MP2100B로 최대 4채널까지 동시적 BER 계측과 아이 패턴 분석을 수행할 수 있으므로 QSFP+ 등의 다채널 광모듈 계측을 보다 경제적으로 수행할 수 있다. 또한 150ksample/s의 속도로 빨라진 새로운 고속 샘플링 모드는 아이 패턴 계측 시간을 줄여준다.

PPG는 지터 1ps, Tr/Tf 24ps의 고품질 신호를 출력하며 ED는 10mVp-p의 높은 최저 감도를 지원한다. 따라서 MP2100B는 광모듈 및 광학 장비의 정확한 평가에 이상적인 솔루션이다.

이전 계측 시스템에는 아이 패턴 분석을 위한 신호 소스로 사용되는 별도의 PPG와 샘플링 오실로스코프가 있기 때문에 평가 시스템을 위한 큰 벤치탑 공간이 필요했을 뿐 아니라 거의 두 배의 장비 비용이 들었다. 이번에 새롭게 출시된 올인원 MP2100B에는 PPG와 샘플링 오실로스코프가 통합돼 공간과 장비 비용이 절감된다.

깊이 18cm의 캐비닛에 탑재된 MP2100B는 대부분의 복잡한 벤치탑 위에도 배치할 수 있으며 동시적 BER 계측과 아이 패턴 분석을 지원하는 통합 BERT 및 샘플링 오실로스코프는 계측 시간을 단축하고 광모듈 및 광학 장비의 검사 비용을 절감해준다.



댓글삭제
삭제한 댓글은 다시 복구할 수 없습니다.
그래도 삭제하시겠습니까?
댓글 0
0 / 400
댓글쓰기
계정을 선택하시면 로그인·계정인증을 통해
댓글을 남기실 수 있습니다.