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내쇼날인스트루먼트, 텍트로닉스와 협력 개발한 고성능의 PXI 디지타이저 출시

6월 초 반도체 자동화 테스트 컨퍼런스 개최 예정
CCTV뉴스l승인2011.05.02 00:00:00

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내쇼날인스트루먼트는 빠르게 성장하고 있는 PXI의 성능을 보완한 고성능의 PXI 디지타이저를 출시한다고 밝혔다.

오실로스코프 업계 리더인 텍트로닉스와 공동으로 개발한 NI PXIe-5186은 최대 5 GHz 대역폭과 12.5 GS/s 샘플 속도를 구현하는 텍트로닉스의 Enabling Technology가 적용되었다.

내쇼날인스트루먼트는 12.5 GS/s 샘플 속도와 함께 3 GHz 대역폭을 제공하는 NI PXIe-5185도 발표했다. 두 디지타이저는 내쇼날인스트루먼트 PXI 기반 하드웨어 및 소프트웨어 플랫폼으로써 자동화 테스트 어플리케이션에 최적화된 성능을 제공한다.

내쇼날인스트루먼트 창립자이자 CEO인 Dr. James Truchard는 "두 업체의 강점이라고 할 수 있는 텍트로닉스의 고속 디지털화(digitization)와 NI의 소프트웨어 정의 계측이 결합된 제품이 협력 개발됐다는데 기쁨을 감출 수 없다"며 "새 디지타이저들은 테스트 어플리케이션에서 무어의 법칙이 어떻게 적용되고 있는지 여실히 보여주고 있다. PXI와 같이 작은 공간에 고성능을 제공한다는 점이 딱 들어맞고 있는 것이다"라고 내쇼날인스트루먼트 사장이자 CEO 및 공동창립자인 Dr. James Truchard는 이번 제품 출시에 대한 소감을 전했다.

새 디지타이저의 독자적인 텍트로닉스 성능 오실로스코프 ASIC은 고속 신호 수집에 낮은 노이즈와 높은 선형성 기반을 제공하며, 고도로 안정적인 IBM 7HP GiGe 프로세스를 기반으로 한다. 텍트로닉스가 제공하는 최상 신호 정확도의 한 예는 디지타이저에서 엄청나게 낮은 샘플링 지터를 제공하는 Enabling Technology이다. 디지타이저의 매우 낮은 500 fs RMS 통합 지터는 5 GHz에서 5.5 ENOB (Effective Number of Bit: 유효 비트 수)로 이어진다. 내쇼날인스트루먼트의 독자 기술은 보다 빠른 테스트 실행을 위한 높은 데이터 전송률과 다채널의 통합형 테스트 시스템 구축을 위한 정밀 멀티모듈 타이밍 및 동기화를 제공한다. 3U PXI Express 플랫폼을 위해 제작된 이 디지타이저는 700 MB/s의 빠른 속도로 스트리밍과 여러 모듈에서 160 ps 분해능 내로 동기화가 가능하다. 이 같은 기능을 갖춘 디지타이저는 자동화 제품 테스트, 반도체 ATE 및 고-에너지 물리학 측정 시스템과 같은 어플리케이션에 이상적이다.

텍트로닉스의 최고 기술 경영자인 Kevin Ilcisin은 "오실로스코프의 세계 표준으로 자리매김한 텍트로닉스는 고객의 요구사항을 충족시키는 기술을 제공하는 데 모든 노력을 기울이고 있다. 그 노력의 일환으로 제품 테스트 어플리케이션에 카드-모듈형 계측기 포맷이 필요한 고객 요구사항을 해결했다. 고객들은 내쇼날인스트루먼트가 제공하는 인스트루먼트 컨트롤을 통해 보완된 신호 수집 기술의 장점을 활용하고 있다"라고 말했다.

디지타이저는 그래픽 기반 디자인 소프트웨어인 NI LabVIEW와 함께 결합되어 컨트롤 및 자동화에 사용되며, NI LabWindowsTM/CVI ANSI C 소프트웨어 개발 환경과 Microsoft Visual Studio .NET 개발 툴 등의 여러 프로그래밍 옵션도 제공한다. 엔지니어는 NI-SCOPE 인스트루먼트 드라이버 또는 새로운 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 이용하여 디지타이저를 프로그래밍할 수 있다. LabVIEW Jitter Analysis Toolkit은 높은 전송률, 지터, 아이 다어이그램 및 위상 노이즈 측정에 최적화된 함수 라이브러리를 제공한다.

한편, 한국내쇼날인스트루먼트는 이번 제품 출시와 함께 반도체 개발 및 품질 검증 연구원을 위한 자동화 테스트 컨퍼런스를 6월 개최하고, 신제품 소개 및 데모시연을 진행할 예정이다. 

컨퍼런스에는 한국NI와 한국텍트로닉스가 함께 새 디지타이저 기술에 대해 소개하고, 반도체 연구원을 대상으로 혼합 신호(mixed signal) 칩 테스트를 위한 PXI 기반 시스템 구성법을 제안하며, 현 한국 비파괴학회 학술분과 위원이자 IRWAVE의 주훈 대표가 특별 연사로 초청되어 최근 이슈화가 되고 있는 열화상을 이용한 비파괴 PCB 성능 검사법을 소개할 예정이다.

이 외에도 NFC 무선 프로토콜 테스트 세션과 모바일 칩셋 테스트를 위한 최신 기술 발표 역시 눈 여겨 볼만 하다.

새 제품에 대한 자세한 정보는 내쇼날인스트루먼트 홈페이지 ni.com/digitizers를 방문하여 자세히 확인할 수 있으며, 6월 초 개최 예정인 자동화 테스트 컨퍼런스의 상세 정보 및 등록 안내는 추후 웹사이트를 통해 공지될 예정이다.


조은혜 기자


 

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